产品几何技术规范(GPS) 坐标测量机的验收检测和复检检测 第5部分:使用单探针或多探针接触式探测系统的坐标测量机-GB/T 16857.5-2017_万博亚洲网
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产品几何技术规范(GPS) 坐标测量机的验收检测和复检检测 第5部分:使用单探针或多探针接触式探测系统的坐标测量机

标 准 号: GB/T 16857.5-2017
替代情况:
发布单位: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位: 上海大学等
发布日期: 2017-11-01
实施日期: 2018-05-01
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更新日期: 2018年07月26日
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内容摘要

本部分规定了带有接触式探测系统的坐标测量机特性的验收检测和复检检测的方法,且仅在坐标测量机有以下配置时适用:
  --任何类型接触式探测系统;
  --离散点探测的模式;
  --探针针头为球形或半球形。
  GB/T 16857的本部分适用于有以下任一配置的坐标测量机:
  a) 单探针探测系统;
  b) 多探针探测系统,即一个测头下固定地连接了多个探针(如星形探针);
  c) 多测头探测系统,如配置了多个测头,每个测头都安装了探针;
  d) 万向探测系统;
  e) 探针和测头交换系统;
  f) 手动(无驱动式)坐标测量机。
  本部分不适用于非接触式的探测系统,它需要不同的检测步骤。
  为方便用户,将坐标测量机的多探针探测系统的尺寸误差简称为多探针尺寸误差。
  如果有可能把探测系统的特性与坐标测量机的特性分离,那么坐标测量机的影响就可以忽略。详细信息参见附录C。

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